北京自动测试技术研究所隶属于北京市科学技术研究院，成立于1984年，是经国家科委批准成立的国内专门从事集成电路测试技术研究、测试系统开发及消售和集成电路测试服务的专业研究所，是国家集成电路测试技术科技攻关项目的牵头单位。北京自动测试技术研究所自2002年以来，先后被政府有关主管部门认定为“集成电路产业孵化基地”、“集成电路测试技术研究中心”、“中关村集成电路测试中心”、“北京市科技研究开发机构”、“北京集成电路测试科技条件平台”等，是北京市科委第一批认定的市级重点实验室以及是中国电子测量仪器行业协会副理事长单位。

北京自动测试技术研究所从国家“六五”科技攻关起，先后承担了多项国家重点科技攻关项目和北京市重大科研项目，取得了一系列领先于国内并达到国际水平的科技成果，建立了国家大型集成电路测试程序库。特别是近年来在CPU、SOC、FPGA、网络芯片、数字电视芯片、信息安全芯片、高速USB接口芯片等高端芯片的测试方法和测试关键技术研究取得了突破性进展，积累了丰富的经验，实现了200MHz高可靠链接与测试适配器的设计，开发出了多款高端芯片的测试程序及测试包，使得国家集成电路测试程序库得到了不断的扩充与完善，目前库中有几十大类3000多个典型品种的测试程序，涵盖了SOC、CPU、DSP、MCU、FPGA、存储器芯片、非接触式智能卡芯片等。这些关键技术与测试程序已成功应用于产业化测试，满足了我国集成电路产业发展需求。