摘要：在激光系统中，光学薄膜的抗激光强度较低，这是光学薄膜研究中最重要的问题之一。测量光学薄膜对强激光的热吸收 情况对于光学薄膜的性能研究具有重大意义，而TC-08是一款可靠灵活的温度记录仪。本文介绍了利用TC-08温度记录仪“接触式”地测试光学薄膜激光量热吸收的测试，大大地扩展了TC-08在光电行业的应用。

1 引言

光学薄膜的应用始于20世纪30年代。现代，光学薄膜已广泛用于光学和光电子技术领域，制造各种光学仪器，它充斥着我们生活的方方面面，其性能的优劣直接影响产品的性能。光学薄膜对激光量的热吸收 是衡量光学薄膜性能的一个重要参数，特别是在强激光作用下，即使十分微弱的吸收也足以导致薄膜元件的破坏，因此有必要对光学薄膜的激光量热吸收情况进行测试。为了达到测试的目的，温度记录仪显得尤为重要。本文利用两种不同的方式完成该项测试，包括“接触式”和“非接触式”测试，并给出测试的结果。中国科学院光电技术研究所光电实验室正是采用TC-08来测试光学薄膜对激光量的吸收情况，跟本文介绍的应用相类似。

2 测试工具和测量原理

2.1 测试工具

1） TC-08温度记录仪:TC-08是一款八通道的热电偶温度记录仪，由英国Pico研发生产，广州虹科为国内总代理商，专用于实时在线的温度数据采集、显示和存储，以图表，数据表或者文档的形式查看数据。测量范围-270℃至1820℃，精度±0.5℃，能够存储一百万个数据点，其最大的特点是USB供电和通信，不需外部电源，非常适用于实验室和现场温度测量。

2）Ti32红外热像仪：Ti32是由福禄克研发生产的一款便携式红外热像仪，用于测试一个面的温度，可以查看完整的数据分析和报告，温度测量范围-20℃至+600℃，精度±2℃，手持式操作，电池供电，红外热像仪的应用非常广泛，只要有温度差异的地方都有应用。

2.2 测量原理

利用大功率激光器对光学薄膜进行照射，一部分激光自动反射出去，另外一部分激光则被光学薄膜吸收，光学薄膜由于吸收激光而温度升高，照射一段时间后，薄膜自然冷却。利用以英国Pico的TC-08温度记录仪为主，福禄克Ti32红外热像仪为辅的记录整个过程中的温度，TC-08能够实时在线绘制温度曲线，并记录温度数据，通过热力学理论得到光学薄膜对激光量的热吸收情况，从而了解光学薄膜的性能[2].图1为理想测试曲线，图2本次测试用的光学薄膜。

3 测量过程

图3为测试整体装置，大功率的激光器发射强激光照射在贴在镜片的光学薄膜上，镜片背面粘贴连接着TC-08在线温度记录仪的贴片式3至5条热电偶线，“接触式”地进行温度测试,采集的数据直接显示和保存在电脑上；在镜片周围利用Ti32红外热像仪，“非接触式”测试镜片背面的温度。两种方法进行对比验证，保证更加准确的测试结果。TC-08连接的热电偶线线长可以自行配置（最长20米），测试地点跟观测地点可以在不同的实验室，如果您需要进行下一次测试，直接在电脑上选择在此测试即可，十分方便。