爱德公司今天宣布，提供其下一代高速DRAM测试系统，T5511。开始航运本月初，新的系统，提供了业界最快的8Gbps的测试速度。

多样化的DRAM，一个测试解决方案

动态随机存取存储器（DRAM）是最常用的个人计算机和工作站的商品存储设备的类型。它也被广泛运用在服务器和客户机，并用图形和移动应用广泛。虽然无处不在，DRAM技术的变化和进步的步伐很快，有高度的变化-之间的应用类-在速度和功能。超快速的GDDR5-SDRAM芯片使用的图形需要如时钟培训和CRC（循环冗余校验）功能，以确保其可靠性和高速性能。同时，为服务器和客户端的DDR4-SDRAM将很快实现两倍的带宽主流的DDR3-SDRAM和等于到GDDR5的功能。在移动和图形部分，x32和x64的总线宽度是现在的主流，宽256位宽接口的I / ODRAM与预计将在不久的将来，标准化。从最终的应用程序的不同要求，在DRAM技术的发展需要最佳的测试解决方案，能够支持每一代新型设备和应用，而成本控制的必要性要求一个单一平台的解决方案，支持各类DRAM，可灵活部署研发到批量生产。

产品特点

• 业界最佳的8Gbps的测试速度和计时精度为±40ps

• 一个8Gbps的最高试验速度，T5511是世界上最快的内存测试仪，支持最快的GDDR5SDRAM的设备，腾出能力。此外，由于所有系统的测试引脚，支持8Gbps的，没有减少并行发生在高速运行。

• 内置时钟训练控制功能

• 必不可少的SDRAM，并为新的DDR4的GDDR5SDRAM器件的测试，时钟培训功能内置到T5511的硬件。这使得不可能依靠这一功能的软件时，吞吐量改善。

• 简单的测试程序创建

• T5511还设有硬件CRC代码生成功能，必要尖端的DDR4-SDRAM的GDDR5SDRAM器件的测试。专用硬件自动生成CRC码，减少对经营者的负担，使创建测试程序简单。

• 此外，T5511运行爱德的“未来套房”测试操作系统，使运营商能够利用广泛的为T55xx一系列测试系统创建的程序数据库。

• “实验室工厂”的灵活性

系统配置的范围从384使用的R＆D引脚通过一个最多6,144批量生产引脚。T5511的“工厂”的灵活的可配置实验室，让客户持有的资本投资到最低限度，同时实现最高的测试效率。

主要技术指标的
目标设备的DDR4-SDRAM的GDDR5-SDRAM
并行测试能力：256（X8的I / O）
最高试验速度：4GHz的/个8Gbps