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摘要: 薄铜箔与载体的分离 1.0适用范围该方法适用于室温条件下测定薄铜箔载体的分离强度N/mm;2.0使用文件无3.0试样层压带载体的铜箔;4.0装置具有50.8MM+-2.5mm/MIN速度的实验仪器;5.0试验程序5.1环境温度准备试样不得有分层,皱褶,白斑,起泡,裂纹;制作75mm宽的剥离强度试样,至少长75mm;(在载体上刻一条约25mm宽的条,剥掉25mm条背面的载体约25mm,使剥离线垂
型号 | 厂商 | 价格 |
---|---|---|
EPCOS | 爱普科斯 | / |
STM32F103RCT6 | ST | ¥461.23 |
STM32F103C8T6 | ST | ¥84 |
STM32F103VET6 | ST | ¥426.57 |
STM32F103RET6 | ST | ¥780.82 |
STM8S003F3P6 | ST | ¥10.62 |
STM32F103VCT6 | ST | ¥275.84 |
STM32F103CBT6 | ST | ¥130.66 |
STM32F030C8T6 | ST | ¥18.11 |
N76E003AT20 | NUVOTON | ¥9.67 |