据SemiconTimes网站报道，总部位于美国加州的半导体测试与高温老化（burn in）设备供应商Aehr Test Systems近日宣布从一家存储器芯片制造商获得了价值逾600万美元的设备订单。据悉，该买家订购的是Aehr Test Systems生产的用于300mm晶圆测试的FOX-1整片并行测试系统和接触器（full wafer contactor），产品将在接下来的六个月内出货。

Aehr Test Systems的全球销售和服务部门副总裁Greg Perkins表示，此次获得FOX-1并行测试设备大单对公司意义重大。他认为这对公司来说意味着一次非常重大的发展，显示了公司的300mm晶圆测试设备满足客户需求的能力。

FOX-1全晶圆并行测试系统是FOX整片接触测试系统产品家族中的一员，可以通过一次touchdown完成对整个晶圆上的IC器件的测试，并能用于快速高温老化及其测试。这一解决方案结合了整硅片接触技术、高并行度测试技术和可测试性设计（Design For Test）技术。Aehr Test的FOX产品家族的其他成员还包括FOX-14和FOX-V，用于汽车IC、DRAM和垂直腔表面发射激光器（VCSEL）等产品的长时间整片高温老化和测试。

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